X-Ray Optics and Microanalysis

Name: X-Ray Optics and Microanalysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780735407640
Price: 605.7 RON
Availability: InStock

Proceedings of the 20th International Congress

Autor: Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Limbă:

Legare: Copertă tare

Editura: Springer, Berlin

Disponibilitate: șansă 50%

Şanse de a obține acest titlu

605.70 lei

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x...

Informații despre carte

Autor

Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Limbă

engleză

Legare

Carte - Copertă tare

Publicat

2010

Pagini

228

EAN

9780735407640

ISBN

0735407649

Enbook ID

01391302

Editura

Springer, Berlin

Greutate

782

Dimensiuni

222 x 285 x 20

Descriere completă

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x-ray optics and micro- and nano-analysis by means of x-ray beams (with an ICXOM20 emphasis on synchrotron sources), electrons or other energetic particles, including application examples, as well as methodological and instrumental developments.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

X-Ray Optics and Microanalysis

Proceedings of the 20th International Congress

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și