Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Name: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489989529
Price: 605.59 RON
Availability: InStock

Autor: Mohammad Tehranipoor, Kemao Peng, Krishnendu Chakrabarty

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 8-11 zile

605.59 lei

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated c...

Informații despre carte

Autor

Mohammad Tehranipoor, Kemao Peng, Krishnendu Chakrabarty

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2014

Pagini

212

EAN

9781489989529

ISBN

9781489989529

Enbook ID

09161362

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

361

Dimensiuni

155 x 235 x 235

Descriere completă

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și