Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461395379
Price: 553.38 RON
Availability: InStock

Autor: Giora Kimmel

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

553.38 lei

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif...

Informații despre carte

Autor

Giora Kimmel

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2011

Pagini

372

EAN

9781461395379

ISBN

9781461395379

Enbook ID

06624110

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

681

Dimensiuni

170 x 244 x 22

Descriere completă

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Quantitative X-Ray Diffractometry

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și