Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 1101.46 RON
Availability: InStock

Autor: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

1 101.46 lei

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Informații despre carte

Autor

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2012

Pagini

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Editura

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Greutate

692

Dimensiuni

155 x 235 x 25

Descriere completă

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Noncontact Atomic Force Microscopy

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și