Multi-Chip Module Test Strategies

Name: Multi-Chip Module Test Strategies
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461377986
Price: 551.58 RON
Availability: InStock

Autor: Yervant Zorian

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

551.58 lei

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physica...

Informații despre carte

Autor

Yervant Zorian

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2012

Pagini

167

EAN

9781461377986

ISBN

9781461377986

Enbook ID

06623159

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

369

Dimensiuni

195 x 260 x 10

Descriere completă

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. §Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. §Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). §

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Multi-Chip Module Test Strategies

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și