MOS Interface Physics, Process and Characterization

Name: MOS Interface Physics, Process and Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9781032106281
Price: 382.76 RON
Availability: InStock

Autor: Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Taylor & Francis Ltd

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 9-15 zile

382.76 lei

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important compo...

Informații despre carte

Autor

Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2024

Pagini

162

EAN

9781032106281

Enbook ID

44702474

Editura

Taylor & Francis Ltd

Greutate

453

Dimensiuni

152 x 229

Descriere completă

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și