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L'environnement radiatif est l'un des problčmes majeurs pour les circuits électroniques embarqués ŕ bord des satellites en orbite. Plusieurs dispositifs ŕ semi-conducteur présent dans l'espace sont exposés aux ions lourds des rayons cosmiques galactiques (en plus d'autres sources possibles) et ŕ un grand flux de proton provenant des événements solaires et/ou d'une ceinture de radiation planétaire. Il est impératif durant les différentes phases de construction d'un satellite de tester sa fiabilité et de la charge utile embarquée. Chaque élément constitutif du satellite doit subir des tests de qualification en environnement sévčre. Les tests au sol permettent de jauger les capacités fonctionnelles en prenant soin d'assurer la plus meilleure des fiabilités. Parmi les éléments constitutifs de la charge utile du satellite, l'électronique embarquée est sujette ŕ ce qu'on désigne communément par panne. Pour cela, une étude détaillée de la fiabilité doit ętre entreprise.
