Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Name: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558991194
Price: 180.1 RON
Availability: PreOrder

Autor: James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Limbă:

Legare: Copertă tare

Editura: Materials Research Society

Disponibilitate: Retipărire preconizată

Termenul este necunoscut

180.10 lei

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability proble...

Informații despre carte

Autor

James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Limbă

engleză

Legare

Carte - Copertă tare

Publicat

1991

Pagini

382

EAN

9781558991194

ISBN

1558991190

Enbook ID

02059930

Editura

Materials Research Society

Greutate

700

Dimensiuni

155 x 235 x 25

Descriere completă

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și