Kelvin Probe Force Microscopy

Name: Kelvin Probe Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642271137
Price: 552.42 RON
Availability: InStock

Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Autor: Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

552.42 lei

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses pot...

Informații despre carte

Autor

Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2013

Pagini

334

EAN

9783642271137

ISBN

3642271138

Enbook ID

02255881

Editura

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Greutate

554

Dimensiuni

156 x 236 x 23

Descriere completă

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.§

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Kelvin Probe Force Microscopy

Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și