High-Resolution X-Ray Scattering

Name: High-Resolution X-Ray Scattering
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441923073
Price: 487.08 RON
Availability: InStock

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Autor: Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

487.08 lei

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for th...

Informații despre carte

Autor

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2011

Pagini

408

EAN

9781441923073

ISBN

1441923071

Enbook ID

01421132

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

652

Dimensiuni

155 x 235 x 24

Descriere completă

The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

High-Resolution X-Ray Scattering

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și