Field Emission Scanning Electron Microscopy

Name: Field Emission Scanning Electron Microscopy
Brand: Springer Verlag, Singapore
SKU: 9789811044328
Price: 385.87 RON
Availability: InStock

Autor: Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer Verlag, Singapore

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

385.87 lei

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new gene...

Informații despre carte

Autor

Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2017

Pagini

137

EAN

9789811044328

ISBN

9811044325

Enbook ID

16018571

Editura

Springer Verlag, Singapore

Greutate

252

Dimensiuni

240 x 159 x 13

Descriere completă

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Field Emission Scanning Electron Microscopy

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și