Electromigration

Name: Electromigration
Brand: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
SKU: 9783639088137
Price: 274.05 RON
Availability: InStock

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Autor: Linghong Li

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 9-15 zile

274.05 lei

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §...

Informații despre carte

Autor

Linghong Li

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2008

Pagini

EAN

9783639088137

ISBN

3639088131

Enbook ID

06817951

Editura

VDM Verlag Dr. Mueller E.K.

Greutate

113

Dimensiuni

152 x 229 x 4

Descriere completă

Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Electromigration

Studied with the Optical Microscopy Imaging Method

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și