Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9780387465463
Price: 1099.32 RON
Availability: InStock

Autor: Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

Limbă:

Legare: Copertă tare

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 10-13 zile

1 099.32 lei

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms...

Informații despre carte

Autor

Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

Limbă

engleză

Legare

Carte - Copertă tare

Publicat

2007

Pagini

328

EAN

9780387465463

ISBN

0387465464

Enbook ID

01382200

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

694

Dimensiuni

155 x 235 x 24

Descriere completă

The progression developed in this book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without the insight into the physics of nano-metric technologies, it would be hard to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. Obviously, the work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și