Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441932990
Price: 824.66 RON
Availability: InStock

Autor: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Limbă:

Legare: Carte broșată

Editura: Springer-Verlag New York Inc.

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 5-8 zile

824.66 lei

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...

Informații despre carte

Autor

Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Limbă

engleză

Legare

Carte - Carte broșată

Publicat

2010

Pagini

430

EAN

9781441932990

ISBN

1441932992

Enbook ID

01421940

Editura

Springer-Verlag New York Inc.

Greutate

1390

Dimensiuni

152 x 229 x 25

Descriere completă

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și