Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470638828
Price: 866.35 RON
Availability: InStock

Autor: Greg Haugstad

Limbă:

Legare: Copertă tare

Editura: John Wiley & Sons Inc

Disponibilitate: În depozitul extern

Expediem în 9-15 zile

866.35 lei

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for...

Informații despre carte

Autor

Greg Haugstad

Limbă

engleză

Legare

Carte - Copertă tare

Publicat

2012

Pagini

496

EAN

9780470638828

ISBN

0470638826

Enbook ID

01388618

Editura

John Wiley & Sons Inc

Greutate

850

Dimensiuni

155 x 243 x 32

Descriere completă

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Cele mai căutate

Categories

Authors

Publishers

Produse

Produse

Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Informații despre carte

Descriere completă

S-ar putea să te intereseze

Clienții care au cumpărat această carte au mai cumpărat și