Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Autor: 
Limba: 
english
Tip copertă: 
Greu
Număr de pagini: 
496
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The materi ...Descriere completă
825,80 RON

Informații detaliate

Mai multe informatii
ISBN9780470638828
AutorHaugstad Greg
EdituraWiley
Limbaenglish
Tip copertăPevná vazba
Anul publicării2012
Număr de pagini496

Descrierea cărții

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.

"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

 

  1. velký výběr

    O SELECȚIE URIAȘĂ

    Peste 4 milioane de cărți în engleză la prețuri avantajoase.

  2. poštovné zdarma

    LIVRARE GRATUITĂ

    Livrare gratuită la comenzi de peste 300 Lei (Packeta.ro)

  3. skvělé ceny

    PREȚURI AVANTAJOASE

    Încercăm să păstrăm prețurile cărților cât mai mici și întotdeauna sub prețul recomandat de editură.

  4. online podpora

    PROGRAMUL MAGAZIN DE ÎNCREDERE

    Magazinul nostru a devenit un “Magazin de încredere“ pe baza recenziilor oferite de către clienții noștri reali.

  5. osobní přístup

    ABORDARE PERSONALĂ

    Cel mai important pentru noi este satisfacția Dvs. Vindem cărți deoarece le iubim. Nu suntem giganți transnaționali, ci o companie onestă din Republica Cehă. În plus, cele mai bune cărți au recenzii în blogul nostru.